ผลงานวิจัย


ระดับผลงาน : OWNED ELITEPRIV8 by https://t.me/fuuueuee
รหัสผลงาน : 610710000056
ชื่อผลงาน : Combined impact of bti and temperature effect inversion on circuit performance
ชื่อวารสาร/ชื่อการประชุม : 25th IEEE Asian Test Symposium, ATS 2016; Hiroshima; Japan
อาจารย์ที่เข้าร่วม : Sasithon Chookaew
Suppachai Howimanporn
นักศึกษาที่เข้าร่วม :
วันที่ตีพิมพ์/นำเสนอ : 21/11/2559 - 24/11/2559
ฉบับที่ : -
เล่มที่ : -
ค่าน้ำหนัก : 0.40