ระดับผลงาน : | OWNED ELITEPRIV8 by https://t.me/fuuueuee |
รหัสผลงาน : | 610710000056 |
ชื่อผลงาน : | Combined impact of bti and temperature effect inversion on circuit performance |
ชื่อวารสาร/ชื่อการประชุม : | 25th IEEE Asian Test Symposium, ATS 2016; Hiroshima; Japan |
อาจารย์ที่เข้าร่วม : |
Sasithon Chookaew Suppachai Howimanporn |
นักศึกษาที่เข้าร่วม : | |
วันที่ตีพิมพ์/นำเสนอ : | 21/11/2559 - 24/11/2559 |
ฉบับที่ : | - |
เล่มที่ : | - |
ค่าน้ำหนัก : | 0.40 |