ผลงานวิจัย


ระดับผลงาน : OWNED ELITEPRIV8 by https://t.me/fuuueuee
รหัสผลงาน : 610710000057
ชื่อผลงาน : NBTI in FinFET Circuits under the Temperature Effect Inversion
ชื่อวารสาร/ชื่อการประชุม : 19th IEEE International Conference on Computational Science and Engineering, 14th IEEE International Conference on Embedded and Ubiquitous Computing and 15th International Symposium on Distributed Computing and Applications to Business, Engineering
อาจารย์ที่เข้าร่วม : Sasithon Chookaew
Suppachai Howimanporn
นักศึกษาที่เข้าร่วม :
วันที่ตีพิมพ์/นำเสนอ : 24/08/2559 - 26/08/2559
ฉบับที่ : -
เล่มที่ : -
ค่าน้ำหนัก : 0.40