ระดับผลงาน : | OWNED ELITEPRIV8 by https://t.me/fuuueuee |
รหัสผลงาน : | 620701000029 |
ชื่อผลงาน : | Temperature effects on BTI and soft errors in modern logic circuits |
ชื่อวารสาร/ชื่อการประชุม : | Microelectronics Reliability |
อาจารย์ที่เข้าร่วม : |
Sasithon Chookaew Suppachai Howimanporn |
นักศึกษาที่เข้าร่วม : | |
วันที่ตีพิมพ์/นำเสนอ : | 01/08/2561 - 31/08/2561 |
ฉบับที่ : | |
เล่มที่ : | |
ค่าน้ำหนัก : | 1.00 |