ผลงานวิจัย


ระดับผลงาน : OWNED ELITEPRIV8 by https://t.me/fuuueuee
รหัสผลงาน : 620701000029
ชื่อผลงาน : Temperature effects on BTI and soft errors in modern logic circuits
ชื่อวารสาร/ชื่อการประชุม : Microelectronics Reliability
อาจารย์ที่เข้าร่วม : Sasithon Chookaew
Suppachai Howimanporn
นักศึกษาที่เข้าร่วม :
วันที่ตีพิมพ์/นำเสนอ : 01/08/2561 - 31/08/2561
ฉบับที่ :
เล่มที่ :
ค่าน้ำหนัก : 1.00