ยินดีต้อนรับ

ผลงานวิจัย


การประชุมวิชาการระดับนานาชาติ
610710000057
NBTI in FinFET Circuits under the Temperature Effect Inversion
19th IEEE International Conference on Computational Science and Engineering, 14th IEEE International Conference on Embedded and Ubiquitous Computing and 15th International Symposium on Distributed Computing and Applications to Business, Engineering
Sasithon Chookaew
Suppachai Howimanporn
24/08/2559 - 26/08/2559
-
-
0.40