คณะครุศาสตร์อุตสาหกรรม มจพ.

ระดับผลงาน :

OWNED ELITEPRIV8 by https://t.me/fuuueuee

รหัสผลงาน :

620701000029

ชื่อผลงาน :

Temperature effects on BTI and soft errors in modern logic circuits

ชื่อวารสาร/ชื่อการประชุม:

Microelectronics Reliability

อาจารย์ที่เข้าร่วม :

Sasithon Chookaew
Suppachai Howimanporn

บุคลากรภายนอกที่ร่วมผลงาน :

นักศึกษาที่เข้าร่วม :

วันที่ตีพิมพ์/นำเสนอ :

01/08/2561 - 31/08/2561

ปีที่ :

ฉบับที่ :

หน้าที่ :

ค่าน้ำหนัก :

1.00