คณะครุศาสตร์อุตสาหกรรม มจพ.

ระดับผลงาน :

OWNED ELITEPRIV8 by https://t.me/fuuueuee

รหัสผลงาน :

610710000056

ชื่อผลงาน :

Combined impact of bti and temperature effect inversion on circuit performance

ชื่อวารสาร/ชื่อการประชุม:

25th IEEE Asian Test Symposium, ATS 2016; Hiroshima; Japan

อาจารย์ที่เข้าร่วม :

Sasithon Chookaew
Suppachai Howimanporn

บุคลากรภายนอกที่ร่วมผลงาน :

นักศึกษาที่เข้าร่วม :

วันที่ตีพิมพ์/นำเสนอ :

21/11/2559 - 24/11/2559

ปีที่ :

ฉบับที่ :

หน้าที่ :

ค่าน้ำหนัก :

0.40